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2016第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议
2016年03月28日

  2016第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议

  “6th  International Symposium on Test Automation & Instrumentation (ISTAI’2016)”

  会议时间:2016年9月19-21日,会期4天。

  会议地点:北京

  会议主题:面向工业4.0和互联网+的智能测控技术。

  会议内容:基础理论与前沿技术;信号与图像处理;系统运行状态监测、故障诊断及预测;仪器仪表与系统设计应用;传感器技术与物联网技术;光机电液一体化技术及综合测控技术;环境监测与保护;新能源设备安全运行测控方法及系统等。

  会议规模:总人数200人,其中外宾为20人。

  国内主办单位:中国仪器仪表学会

  国内承办单位:中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会